走査電気化学システム

VersaSCANは電気化学及び材料ベース両方の測定に対する空間分解能を提供できる、単一プラットフォームです。各VersaSCANは耐振動光学台に取り付けられる、共通の高分解能、長距離、クローズドループのポジショニングシステムです。様々な補助具がポジショニングシステムに取り付けられています。これらの補助部品(電位計、圧電振動ユニット、又はレーザーセンサなど)は、様々な走査プローブ実験向けのポジショニングシステムに機能を提供します。VersaSTAT ポテンションスタット及び信号回復ロックインアンプはイーサネット制御で統合され、これらの小さな信号を正確に測定します。

各技術では、サンプルに接触せずに近い場所に置かれる様々な測定プローブを利用します。プローブでの測定後、その位置の値が増えます。プローブ位置に対する記録されたパラメータをプロットすると、データマップを作成します。この技術により、このマップは局所的な電気化学電流、インピーダンス、相対的な仕事関数、又は地形を示します。

  • SECM走査型電気化学顕微鏡法

    • 電極反応速度論、金属溶解及び生物学サンプルの研究などの局所電気化学事象の判定向け

    • アプローチ曲線実験、並びにフィードバック モード及び発電機-コレクタモード両方の画像化モードが可能

    • AC-SECM技術は電気化学の媒介物なしに動作し、腐食システムに役立ちます。

    • 地形学的測定技術(OSPなど)と連携する定距離操作、又はEPFLソフトスタイラスプローブテクノロジーによる定距離SECM

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  • VS Stylus

    • 地形学的測定技術(OSPなど)と連携する定距離操作、又はEPFLソフトスタイラスプローブテクノロジーによる定距離SECM
    • サンプルに対する柔接触を行います。生物学的サンプルなどのソフト材料に役立ちます。
    • 市場で利用できる、最低コストの定距離SECM法。

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  • SVET走査振動電極技術

    • 先端と回路基板との局所的な電圧勾配を測定し、局所電流の強度を判定します。
    • くぼみ、溶接部及びガルバニー対などの不均一な腐食事象の解析のために開発されました。
    • シーケンスとしてプログラムされている場合、時間分解イメージングを行うことができます。

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  • LEIS局所電気化学的インピーダンス分光法

    • 局所EIS測定により、回路基板の空間分解インピーダンス解析を行います。
    • シーケンスとしてプログラムされている場合、時間分解イメージングを行うことができます。
    • 完全な電気化学特性化向け単一周波数又は多重周波数掃引

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  • SKPスキャニングケルビンプローブ顕微鏡

    • プローブ及びサンプル間の相対的な仕事関数を測定します。
    • 仕事関数を腐食電位(Ecorr)に関連付けることができます。 
    • プローブとサンプル距離を測定及び設定する地形モード実験が可能
    • 同一プローブを使用して、地形モード実験と同時に定距離操作を実施できます。

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  • SDC走査液滴セル

    • SDC技術は電気化学測定を少量の電解質液滴に限定し、電極/電解質界面の領域を定義します。
    • サンプルをカットしたり、様々な電解質曝露時間で領域をさらしたりすることなく、サンプルを調査することができます。
    • データマップ及びサイクリックボルタンメトリー、ターフェル、EISなどの定位置/動的信号プロット向け一定のバイアス/掃引された位置のプロットの両方を実行できます。

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  • VersaSCAN OSP非接触光学面プロファイリング

    • サンプルの地形を測定する光学面プロファイリング技術
    • 定距離モードマッピング向けにその他のVersaScan技術と融合することができます。

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