| 技術: |
I-V、C-V、P-E、インピーダンス、キャパシタンス、誘電率、 絶縁定数／誘電損失、粒度、分極閾値、交流伝導率 |
| アプリケーション: |
PCメモリー、FeRAM、アクチュエータ、加速度計、マイクロフォン、インクジェット ヘッド、センサー |
| タイプ: |
強誘電体、圧電、MEMs、NEMs、マルチフェロイック、薄膜、PZT、チタン酸バリウム、ペロブスカイト |
強誘電体には圧電物質特性がありますが、加えて電場のアプリケーションにおける自発可逆分極を示すため、半導体薄膜記憶装置（FRAM）で広範に使用されています。強誘電体は、調整可能なコンデンサなどの電子アプリケーションで非常に役立つ適用電場の機能として、非線形誘電率（キャパシタンス）応答も示します。その他のアプリケーションには、センサ、超音波、ソナー、マイクロアクチュエータ、赤外線センサなどを含みます。
ソーラトロン アナリティカルは、これらの材料の特性を解析する下記の試験システム
を提供しています：
- ModuLab XM MTS試験システムは、広範な「プラグ & プレイ」オプションを使用して、完全な時間領域/AC装置の特性解析を実施しています：
- モデル1260Aインピーダンス ゲイン フェーズ アナライザーは、何千もの出版物で参照されており、キャパシタンス / C-V / インピーダンス /10 µHzから32 MHzのMott-Schottky(120以上の周波数)を試験することが可能であるため、フェロ/圧電材料の特性を完全に解析することができます
- モデル1296A誘電インターフェース システムは、サンプル/リファレンス技術により、優れた精度を提供するだけでなく、インピーダンス範囲を1260Aから >100 Tohmまで拡大しており、半導体アプリケーションでよく使用されています
- クライオスタット、ファーネスを含む温度管理オプションが、上記の測定システムのすべてで利用することができます。このシステムでは、サンプルの温度をPCで自動管理し、材料の特性を完全に解析することができます