材料試験システム

絶縁体、誘電体、電子材料の電気的、熱的及び機械的特製を融合した試験に関するシステムです。これらのシステムには、高電圧アンプ、クライオスタット、ファーネス、及び液体、粉末、及び固体材料向けサンプルホルダーなどの特殊な付属品が含まれます。
  • ModuLab XM MTS - 材料試験システム

      • 最も広範なインピーダンス範囲 - µohms ~ 100 Tohms超

      • サンプル接続の変更を要しない、時間領域(IV、高速パルス)及びAC(C-V、インピーダンス、モット・ショットキー)測定間での高速スイッチング

      • デグラデーション、トラップ状態及び材料純度研究のための10 µHzまでの低周波数

      • プラグ & プレイオプションには、フェムト及びサンプル/基準モード(誘電体/絶縁体向け)が含まれます

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  • Materials Lab XM

    • 最高の精度 DC(IV、高速パルス)及びEIS(C-V、インピーダンス、モット・ショットキー)
    • DCとEISとのインスタントスイッチング - サンプル接続の変更なし
    • デグラデーション、トラップ状態及び材料純度研究のための10 µHzまでの低周波数
    • 複数のAC技術には、より高速な低周波試験向けの単一正弦波、高調波解析(非線形材料)、複数正弦波があります。

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  • 1260A インピーダンス/ゲイン相分析器

      • 固体材料向けの広範な周波数範囲 - 10 µHz ~ 32 MHz

      • 材料及び電気化学研究での幅広い参照

      • 電子材料向け41ボルトバイアス

      • 材料研究向け1296A/1294A及び電気化学向け1287A/1470Eによる拡張



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  • 1296A誘電インターフェース システム

      • 広範な周波数範囲 - 10 µHz ~ 10 MHz

      • 誘電体及び絶縁体向けの100 Tohmsまでの高インピーダンス範囲

      • 高精度キャパシタンス、位相及びタンデルタ向けサンプル /参照モード

      • 1260A及びその他12xxシリーズ周波数応答分析器との互換

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  • 129610A LHe/LN2 クライオスタットシステム

    • サンプルに触れない寒剤 - サンプルの損傷を防ぎます
    • 寒剤使用の低減(低ランニングコスト) - サンプル空間を取り囲む毛細管
    • 5 K ~ 600 K(液体ヘリウム及び液体窒素に対応)
    • 固体、粉末、液体のサンプルに対応するカスタムサンプルホルダー

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  • 129620A高温度試験システム

    • 1200ºCまでの室温
    • 試験固体酸化物、固体電解質、超イオン導電体試験向け
    • SOFC向けデュアルガス設計
    • 容易なサンプル積載ができる分割管ファーネス

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  • 12962A室温サンプルホルダー

    • 1200ºCまでの室温
    • 試験固体酸化物、固体電解質、超イオン導電体試験向け
    • SOFC向けデュアルガス設計
    • 容易なサンプル積載ができる分割管ファーネス

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