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材料試験システム

絶縁体、誘電体、電子材料の電気的、熱的及び機械的特製を融合した試験に関するシステムです。これらのシステムには、高電圧アンプ、クライオスタット、ファーネス、及び液体、粉末、及び固体材料向けサンプルホルダーなどの特殊な付属品が含まれます。
  • ModuLab XM MTS - 材料試験システム

      • 最も広範なインピーダンス範囲 - µohms ～ 100 Tohms超

      • サンプル接続の変更を要しない、時間領域（IV、高速パルス）及びAC（C-V、インピーダンス、モット・ショットキー）測定間での高速スイッチング

      • デグラデーション、トラップ状態及び材料純度研究のための10 µHzまでの低周波数

      • プラグ & プレイオプションには、フェムト及びサンプル／基準モード（誘電体／絶縁体向け）が含まれます

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  • Materials Lab XM

    • 最高の精度 DC（IV、高速パルス）及びEIS（C-V、インピーダンス、モット・ショットキー）
    • DCとEISとのインスタントスイッチング - サンプル接続の変更なし
    • デグラデーション、トラップ状態及び材料純度研究のための10 µHzまでの低周波数
    • 複数のAC技術には、より高速な低周波試験向けの単一正弦波、高調波解析（非線形材料）、複数正弦波があります。

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  • 1260A インピーダンス／ゲイン相分析器

      • 固体材料向けの広範な周波数範囲 - 10 µHz ～ 32 MHz

      • 材料及び電気化学研究での幅広い参照

      • 電子材料向け41ボルトバイアス

      • 材料研究向け1296A／1294A及び電気化学向け1287A／1470Eによる拡張



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