材料 Lab XMは、主に材料研究へ特化したアプリケーション特有のXM（Xtreme測定）製品です。
材料 Lab XM製品は、完全に統合された基準等級となる時間領域及びAC測定プラットフォームを提供しています。技術間でサンプル接続を切り替える必要はありません。時間領域測定には、I-V（電流電圧）特性化、並びに高速パルス技術を含みます。AC試験技術には、単一正弦波解析から、より高速な低周波数解析における複数正弦波／高速フーリエ変換、線形線試験及び材料解析に対する高調波及び相互変調に至る全てを含みます。電気インピーダンス分光法（EIS）、アドミッタンス、誘電率及びキャパシタンスの測定は全て、統合型等価回路解析機能と共にXM-studio MTSソフトウェアプラットフォームで提供されています。
時間領域及びAC試験
は試験シーケンスに融合し、即座に切り替えることができます。これによりDC及びパルス波形で電荷キャリアを活性化させることができます。活性キャリアのEIS解析がすぐに続きます。この密接にリンクした統合機能は、Materials Lab XM専用です。測定には以下が含まれます。
- I-V（電流測定による電圧スキャン - 電子及び誘電材料の特性化に利用されます）
- P-E（分極／電場 - 強誘電体材料の特性化を行うヒステリシス試験に利用されます）
- 高速パルス（電子及び誘電材料内の電荷キャリアの活性化に利用されます）
- 階段上及びスムースステップレスアナログ傾斜波形
- インピーダンス、アドミッタンス、誘電率／キャパシタンス、電子モジュール
- C-V キャパシタンス - 電圧、モット・ショットキー
- 時間領域の自動シーケンス及びインピーダンス／キャパシタンス測定