この特定の用途は、コーティングされた、または塗装された材料を評価することが目的です。これらの有機コーティングは、電極サンプルと環境の間にバリアを構成します。電極/電解質インターフェースがない場合は、電子化学反応が発生しません。こうしたコーティングの研究は通常、電気化学的インピーダンス分光法(EIS)により実施されています。EISでは下地金属の腐食に対して電流を印加してから、様々なプロセス：コーティング吸水、孔形成、ブリスター、剥離プロセスを評価します。
プリンストン アプライド リサーチのVersaSTAT/PARSTATファミリーには、 電気化学的インピーダンス分光法(EIS)測定を実施する周波数応答アナライザー(FRA)オプションが搭載されています。EIS機能をこれらの装置に追加するのには、外部ロックイン アンプまたは周波数応答アナライザーは不要です。ソーラトロンのModuLabは、クラス最高のEIS測定を実施するためにカードベースのFRAを使用しています。
電子化学の局所測定では、ユーザーは不均一な腐食および腐食メカニズムを調査することができます。VersaSCANプラットフォームで使用できるスキャニング技術により、ご利用のサンプルの表面での電子化学事象に関する局所情報を入手することができます。EIS技術による局所測定は具体的には、EISの同一原則に基づいて実験中のプローブの局所電流を測定し、コーティングの状態を評価します。そうした局所情報の数値の例として、有機コーティングに対するスクラッチ試験の調査があります。
K0235フラット セルは、様々なサイズのフラット サンプルに対応するよう設計されており、実験ごとに特定のエリアのみを明示します。