ModuLab XM MTS - 材料試験システム

最新世代のModuLab® XM MTS システムは広範囲のアプリケーションを実現すことを考慮して、モジュール性及び柔軟性により設計されています。材料試験研究専用に、ModuLab XMは以下を提供します。

  • I-V(電流測定による電圧スキャン - 電子及び誘電材料の特性化に利用されます)
  • P-E(分極/電場 - 強誘電体材料の特性化を行うヒステリシス試験に利用されます)
  • 高速パルス(電子及び誘電材料内の電荷キャリアの活性化に利用されます)
  • 階段上及びスムースステップレスアナログ傾斜波形
  • インピーダンス、アドミッタンス、誘電率/キャパシタンス、電子モジュール
  • C-Vキャパシタンス - 電圧、モット・ショットキー
  • 時間領域の自動シーケンス及びインピーダンス/キャパシタンス測定

ModuLab XM MTSはサンプル接続を変更することなく、電荷キャリアの活性化及び解析に対する上記技術全ての自動シーケンスが可能です。また、温度制御もクライオスタット、ファーネス及びプローブステーションを経由してソフトウェアに組み込まれています。

ModuLab XMは、以下のアプリケーションに対して構成できるモジュールシステムです。
誘電材料-強誘電/圧電物質 | MEMs | NEMs| マルチフェロイック | ポリマー | 固体酸化物SOFC | イオン導電体 | 固体電解質、量子ドット
電子材料 -LED | LCD | OLED | MEMs | OPV | Si | DSSC | OFET | Ge | GaAs | ペロブスカイト材料
  • 仕様 +


    一般 制御モジュール スレーブモジュール
    100 V高電圧 フェムト電流計 2 Aブースター
    XM MAT 1MHz XM MHV100 XM MFA XM MBST 2A
    使用中筐体スロットシングルシングルシングルダブル
    測定モード2又は4端子2又は4端子2又は4端子2又は4端子
    モジュールからのサンプル接続Gen、VHi、VLo、IGen、VHi、VLo
    MAT- I
    I
    MAT- Gen、VHi、VLo
    Gen、I
    MAT- VHi、VLo
    サンプル接続ケーブル(1 m長)4 x BNC-BNCMATケーブルTriax ~ BNCMATケーブル
    フローティングありありありあり
    一般出力 - (Gen) XM MAT 1 MHz XM MHV100 XM MFA XM MBST 2A
    最大波形発生器サンプルレート64 MS/s
    挿入/フィルター
    MAT利用N/AMAT利用
    最大電圧(開回路負荷) DC + ピークAC
    (スルーレート限度に従う)
    ±8 V±100 VN/AMATあり±8 V
    MATあり±20 V
    最大電圧分解能150 μV(3 V未満)
    400 μV(3 V以上)
    2 mV(37 V未満)
    5 mV(37 V以上)
    N/A1.5 mV
    最大出力電流±100 mA±100 mAN/A±2 A
    出力インピーダンス(名目)50 Ω50 ΩN/A1 Ω未満
    適用電圧誤差(開回路負荷)±0.2%設定
    ±800 μV(3 V未満)
    / ±2 mV (3 V以上)
    ±0.2%設定
    ±12.5 mV(37 V未満)
    / ±35 mV (37 V以上)
    N/A±0.2%設定 +
    ±10 mV(3 V未満)
    / ±25 mV (3 V以上)
    電圧掃引レート1.6 MV/s ~ 1 μV/s10 MV/s ~ 1 μV/sN/A1.6 MV/s ~ 1 μV/s
    推奨最大掃引レート
    (1 MS/s取得レート使用)
    25 kV/s150 kV/sN/A25 kV/s
    最小パルス持続時間1 μsMAT利用N/AMAT利用
    最大スルーレート10 V/μs超15 V/μs超N/A10 V/μs超
    電圧測定 - (VHi/VLo) XM MAT 1MHz XM MHV100 XM MFA XM MBST 2A
    最大電圧±8 V±100 VN/AN / A
    電圧範囲8、3(V)
    300、30、3 (mV)
    100、37.5、3.75 (V)
    375、37.5 (mV)
    N/AN / A
    電圧測定誤差±0.1%読み取り+
    ±0.05%範囲+
    ±100 μV
    ±0.1%読み取り+
    ±0.05%範囲+
    ±100 μV
    N/AN / A
    最大時間領域測定レート1 MS/sN / AN/AN / A
    最大時間記録無制限N / AN/AN / A
    電流測定 - (I) XM MAT 1MHz XM MHV100 XM MFA XM MBST 2A
    最大電流±100 mAN / A±100 mA±2 A
    電流範囲100 mA、30 mA ~
    30 nA(ディケード)
    N / A100 mA、30 mA ~
    3 pA(ディケード)
    2 A + MAT
    範囲
    最大分解能1.5 pAN / A0.15 fA1.5 pA(MAT)
    電流測定誤差±0.1%読み取り+
    ±0.05%範囲+
    ±100 pA
    N / A±0.1%** 読み取り +
    ±0.05%範囲+
    ±30 fA
    ±0.1%読み取り+
    ±0.05%範囲+
    ±0.1 mA
    補助電圧入力 XM MAT 1MHz XM MHV100 XM MFA XM MBST 2A
    補助DCチャネル数4N / AN/AN / A
    電圧範囲8 V、3 V ~ 3 mVN / AN/AN / A
    最大分解能1 μVN / AN/AN / A
    VHi、VLo測定に同期ありN / AN/AN / A
    **MFAフェムトアンメーター電流測定の「%読み取り」誤差項は、300 pA範囲で0.2%、30 pA 範囲で2%、及び3 pA 範囲で5%となっています。

    XM MREF仕様
    サンプル/基準オプション XM MREF
    使用中筐体スロットシングル
    基準モード内部/外部
    MAT、MHV、又はMFAへの接続Gen、I
    サンプルへの接続1 m BNCケーブル
    内部/外部基準への接続1 m BNCケーブル
    較正済基準コンデンサ10nF ~ 1pF
    (ディケード毎に3)

    XM MFRA仕様
    周波数応答分析器オプション XM MFRA 1MHz
    使用中筐体スロット
    最大サンプルレート
    シングル
    40 MS/s
    周波数範囲10 µHz ~ 1 MHz
    周波数分解能65,000,000分の1
    周波数誤差±100 ppm
    最少測定積分時間10 ms
    解析モード(10 μHz ~ 1 MHz)
    固定周波数
    単一正弦波
    複数正弦波/高調波周波数


    線形/対数
    全て又は選択
    精度(率)±0.1%、±0.1º
    アンチエイリアス、デジタルフィルタ、DCバイアス除去自動

    筐体仕様
    筐体タイプ8スロット又は4スロット
    筐体毎のモジュール最大8
    ライン電圧90 V ~ 264 V AC
    47 - 63 Hz
    出力600 VA最大
    通信イーサネット100BASE-T
    デジタル出力MATチャネル毎に3
    寸法 w x h x d
    8 スロット/4 スロット
    450 / 310 x 275 x 460 mm
    17.7 / 12.2 x 10.8 x 18.1 in
    重量8 スロット/4 スロット37/21 kg - 82/46 lb
    安全性基準:BS EN 61010
    EMC準拠:BS EN 61325
    温度範囲
    動作
    指定精度
    保存

    5° ~ 40°C(41° ~ 104°F)
    10° ~ 30°C(50° ~ 86°F)
    -25° ~ 70°C(-13° ~ 158°F)

    通常PC構成
    PC要件Pentium IV 1 GHz、1 Gb RAM
    ディスク容量10ギガバイト超
    通信イーサネット100BASE-T
    ディスプレイ17 “又は大型SVGA
    オペレーティングシステムWindows XP Professional
    又はVista Business
    又はWindows 10、8、7 Professional
  • オプション +


    ModuLab XM MTS Front Panel
    XM MFRA 1MHzXM MFRA 1MHzは、最も多用途性のある、今日利用可能な周波数応答分析器です。これは高電圧、大/弱電流及びサンプル/基準AC測定向けに、全てのXMスレーブモジュールに完全に互換し、スイッチングケーブルなしに時間領域の自動シーケンス及びAC測定を可能にします。
    XM MAT 1MHzMAT 1Mhzは正確な波形生成及びデータ取得向けに最新世代のハイテクノロジーハードウェアを活用しています。
    XM MHV100高電圧 +/- 100Vオプション
    (時間領域及びインピーダンス試験に利用可能であり、その他のオプションと組み合わせて利用することができます)
     XM MFAフェムトアンメーター(弱電流) オプション
    (時間領域及びインピーダンス試験に利用可能であり、その他のオプションと組み合わせて利用することができます)
    XM MREFサンプル/基準スイッチングオプション
    (時間領域及びインピーダンス試験に利用可能であり、その他のオプションと組み合わせて利用することができます)
    XM MBST 2A
    2Aブースターオプション
    (時間領域及びインピーダンス試験に利用可能であり、その他のオプションと組み合わせて利用することができます)
    XM Chas 044スロット筐体
    XM Chas 088スロット筐体
    注記:モジュール及びオプションは2つのスロットを確保するMBST-2Aを除き、筐体内にそれぞれ1つのスロットを確保します。
    少なくとも1つのMAT 1MHzは筐体毎に必要であり、全てのオプションはMATに関連付けられています。
  • 付属品 +

  • ソフトウェア +

    • XM-studioソフトウェア

      • サイクリックボルタンメトリー、NPV/DPV、インピーダンス、AC ボルタンメトリー及びモット・ショットキーなどの広範囲の電気化学試験技術
      • I-V、C-V、インピーダンス及びモット・ショットキーなどの広範囲の材料試験技術
      • ModuLab、ModuLab XM及びApps-XMシリーズなどのXM製品に対する完全サポート
      • DC及びEIS電気化学向けパワーブースター最大100 V及び100 Aの完全サポート
      • カスタム設計のクライオスタット及びファーネスなどの統合型温度制御
      • 統合型等価回路及び電子材料フィッテイング機能

      引き続きお読みください

    • ZViewソフトウェア

      • ZViewはZPlot向け比較EISデータ解析ソフトウェアです。
      • 複数の表示形式(インピーダンス、アドミッタンス、キャパシタンス、誘電率、電気係数)
      • 包括的なデータ解析機能には、等価回路データにフィットするモデルである、R、C、L、ウォーバーグ、分布素子などの拡張ライブラリを含みます。

      引き続きお読みください