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ModuLab XM MTS - 材料試験システム

最新世代のModuLab® XM MTS システムは広範囲のアプリケーションを実現すことを考慮して、モジュール性及び柔軟性により設計されています。材料試験研究専用に、ModuLab XMは以下を提供します。

  • I-V(電流測定による電圧スキャン - 電子及び誘電材料の特性化に利用されます)
  • P-E(分極/電場 - 強誘電体材料の特性化を行うヒステリシス試験に利用されます)
  • 高速パルス(電子及び誘電材料内の電荷キャリアの活性化に利用されます)
  • 階段上及びスムースステップレスアナログ傾斜波形
  • インピーダンス、アドミッタンス、誘電率/キャパシタンス、電子モジュール
  • C-Vキャパシタンス - 電圧、モット・ショットキー
  • 時間領域の自動シーケンス及びインピーダンス/キャパシタンス測定

ModuLab XM MTSはサンプル接続を変更することなく、電荷キャリアの活性化及び解析に対する上記技術全ての自動シーケンスが可能です。また、温度制御もクライオスタット、ファーネス及びプローブステーションを経由してソフトウェアに組み込まれています。

ModuLab XMは、以下のアプリケーションに対して構成できるモジュールシステムです。
誘電材料-強誘電/圧電物質 | MEMs | NEMs| マルチフェロイック | ポリマー | 固体酸化物SOFC | イオン導電体 | 固体電解質、量子ドット
電子材料 -LED | LCD | OLED | MEMs | OPV | Si | DSSC | OFET | Ge | GaAs | ペロブスカイト材料
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