Materials Lab XM

材料 Lab XMは、主に材料研究へ特化したアプリケーション特有のXM(Xtreme測定)製品です。

材料 Lab XM製品は、完全に統合された基準等級となる時間領域及びAC測定プラットフォームを提供しています。技術間でサンプル接続を切り替える必要はありません。時間領域測定には、I-V(電流電圧)特性化、並びに高速パルス技術を含みます。AC試験技術には、単一正弦波解析から、より高速な低周波数解析における複数正弦波/高速フーリエ変換、線形線試験及び材料解析に対する高調波及び相互変調に至る全てを含みます。電気インピーダンス分光法(EIS)、アドミッタンス、誘電率及びキャパシタンスの測定は全て、統合型等価回路解析機能と共にXM-studio MTSソフトウェアプラットフォームで提供されています。

時間領域及びAC試験は試験シーケンスに融合し、即座に切り替えることができます。これによりDC及びパルス波形で電荷キャリアを活性化させることができます。活性キャリアのEIS解析がすぐに続きます。この密接にリンクした統合機能は、Materials Lab XM専用です。測定には以下が含まれます。

  • I-V(電流測定による電圧スキャン - 電子及び誘電材料の特性化に利用されます)
  • P-E(分極/電場 - 強誘電体材料の特性化を行うヒステリシス試験に利用されます) 
  • 高速パルス(電子及び誘電材料内の電荷キャリアの活性化に利用されます)
  • 階段上及びスムースステップレスアナログ傾斜波形
  • インピーダンス、アドミッタンス、誘電率/キャパシタンス、電子モジュール
  • C-V キャパシタンス - 電圧、モット・ショットキー
  • 時間領域の自動シーケンス及びインピーダンス/キャパシタンス測定
  • 仕様 +


    時間領域分析器
    測定モード2又は4端子
    サンプルへの接続Gen、VHi、VLo、I
    サンプル接続ケーブル4 x BNC-BNC(1 m)
    インピーダンス測定帯域1 MHz(FRA経由)
    フローティングあり
    発電機(Gen)
    スムーズな走査装置
    64 MS/s挿入
    及びフィルタ
    最大電圧(開回路負荷)
    DC + ピークAC(スルーレート限度に従う)
    ±8 V
    最大電圧分解能
    150 μV(3 V未満)
    400 μV(3 V以上)
    最大出力電流
    ±100 mA
    出力インピーダンス(名目)
    50 Ω
    適用電圧誤差(開回路負荷)
    ±0.2%設定
    ±800 μV(3 V未満)
    / ±2 mV (3 V以上)
    電圧走査レート1.6 MV/s ~ 1 μV/s
    推奨最大走査レート
    (1 MS/s取得レート使用)
    25 kV/s
    最小パルス持続時間
    1 μs
    最大スルーレート10 V/μs超
    電圧測定(VHi / VLo)
    最大電圧測定±8 V
    範囲8 V
    3 V ~ 3 mV(ディケード)
    精度(読み取り % + 範囲 % + オフセット)0.1% + 0.05% + 100 μV
    最大時間領域サンプルレート1 MS/s
    最大分解能1 μV
    電流測定(I)
    最大電流±100 mA
    範囲100 mA
    30mA ~ 30 nA(ディケード)
    精度(読み取り % + 範囲 % + オフセット)0.1% + 0.05% + 100 pA
    最大時間領域サンプルレート1 MS/s
    最大分解能1.5 pA
    補助電圧入力
    補助DCチャネル数
    4
    仕様VHi/VLoと同様
    VHi/VLo測定に同期あり

    周波数応答分析器
    最大サンプルレート
    40 MS/s
    周波数範囲
    10 µHz ~ 1 MHz
    周波数分解能65,000,000分の1
    周波数誤差
    ±100 ppm
    測定毎の最小 ∫ 時間
    (単一正弦波、FFT又は高調波)
    10 ms
    信号出力
    波形
    単一正弦波、複数正弦波
    単一正弦波
    線形/対数
    複数正弦波/高調波周波数
    全て又は選択
    解析チャネル
    精度(率)
    ±0.1%、±0.1
    アンチエイリアス、デジタルフィルタ、DCバイアス除去
    自動
    解析モード
    単一正弦波、FFT又は高調波
    DCバイアス除去
    自動
  • 付属品 +

  • ソフトウェア +

    • XM-studioソフトウェア

      • サイクリックボルタンメトリー、NPV/DPV、インピーダンス、AC ボルタンメトリー及びモット・ショットキーなどの広範囲の電気化学試験技術
      • I-V、C-V、インピーダンス及びモット・ショットキーなどの広範囲の材料試験技術
      • ModuLab、ModuLab XM及びApps-XMシリーズなどのXM製品に対する完全サポート
      • DC及びEIS電気化学向けパワーブースター最大100 V及び100 Aの完全サポート
      • カスタム設計のクライオスタット及びファーネスなどの統合型温度制御
      • 統合型等価回路及び電子材料フィッテイング機能

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    • ZViewソフトウェア

      • ZViewはZPlot向け比較EISデータ解析ソフトウェアです。
      • 複数の表示形式(インピーダンス、アドミッタンス、キャパシタンス、誘電率、電気係数)
      • 包括的なデータ解析機能には、等価回路データにフィットするモデルである、R、C、L、ウォーバーグ、分布素子などの拡張ライブラリを含みます。

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