TOF-MS 飛行時間型質量分析

TOF-MSでは通常レーザーパルス又は電気スプレー技術を利用してサンプルをまずイオン化してから、電気的に帯電したグリッドを利用してイオンを加速化します。イオンがグリッドを通過するまでにイオンが到達する速度は原則的に質量電荷比(m/z)によって決まり、より重いイオンはより軽いイオンよりも遅くなります。グリッドがフィールドフリーの「飛行管」に入ると、時間の経過とともに分離します。振幅が検出されているイオン数に比例し、パルス時間位置がチューブ間での飛行時間に対応するパルス出力をもたらす、マイクロチャネルプレート検出器によりチューブの遠端でイオンが検出され ます。この信号からイオン数(Y軸)と質量電荷比(X軸)のマススペクトル図を構築することができ、異なる材料は異なるスペクトルを生じるため、このデータはサンプル材料の内容を判定するために使用することができます。

信号回復は、このアプリケーションでの使用に適した数多くの製品を提供しています。弊社はノイズのピックアップを最小化し、高速時間応答を維持する検出器の近くに設置できるスペシャリストのプリアンプと検出信号の処理に最適なデジタル信号アベレージャを数多く提供しています。ハードウェアアベレージング技術及びデータ整理アルゴリズムを利用し、デジタルストレージ式オシロスコープなどのその他の取得電子機器を利用して達成することができるものよりもずっと高いレートで、このアプリケーションが長期間のデータを取得できるようにします。

  • FastFlight-2デジタル信号アベレージャ
  • 9306-P プリアンプ
  • VT120シリーズプリアンプ

エンドユーザーへの上記製品の直販に加え、弊社では、多くの上記製品だけでなく一部がカスタマイズされたモジュールを、上記製品を自社のシステムに組み込む、業界をリードする多数のTOF-MS機器サプライヤーへ提供しています。