半導体及びOFET

技術:  I-V、高速パルス、曲線因子、C-V、キャパシタンス、インピーダンス、モット・ショトキー 
アプリケーション: 機器劣化、可動性、電荷キャリア濃度、空乏層、トラップ状態、ドーパント濃度、トラップ状態、オン・オフ電流比率、閾値電圧、機器の寿命及び材料純度 / 欠陥
タイプ: OFET、ガリウムヒ素、ゲルマニウム、シリコン、灰チタン石、量子ドット、high-k、low-k、薄膜

半導体はPC内のアプリケーション、整流器、太陽電池、増幅器などにあり、適用電場により低効率が変化するデバイスです。半導体材料の特性は不純物(ドーパント)の濃度により劇的に変化します。わずかな濃度のドーパントを導入すると、電気伝導で利用される電荷キャリアの数を大幅に増やします。電気試験は、キャリア濃度、電荷キャリア可動性、オン/オフ電流比及び閾値電圧を確認するために広く使用されています。

プリントテクノロジーを利用する大規模/低コストでの製造の将来性により、有機半導体材料は現在非常に関心が寄せられています(有機電界効果トランジスタ(OFET)など)。OFETは軽量で透明な柔軟性のあるプラスチック基盤に蒸着することができるため、全く新しい世代の低コスト消費財に可能性をもたらします。

ソーラトロン アナリティカル社は、これらの材料の特性を解析する下記の試験システムを提供しています。
  • ModuLab XM MTS試験システムは、広範な「プラグ & プレイ」オプションを使用して、完全な時間領域/AC装置の特性解析を実施しています:
  • モデル1260Aインピーダンス ゲイン フェーズ アナライザーは、何千もの出版物で参照されており、キャパシタンス / C-V / インピーダンス /10 µHzから32 MHzのMott-Schottky(120以上の周波数)を試験することが可能であるため、sub 1 Hz劣化及び寿命研究と共に高可動性機器の特性を完全に解析することができます
  • モデル1296A誘電インターフェース システムは、サンプル/リファレンス技術により、優れた精度を提供するだけでなく、ディスプレイアプリケーションでよく使用されています
  • クライオスタット、ファーネスを含む温度管理オプションが、上記の測定システムのすべてで利用することができます。このシステムでは、サンプルの温度をPCで自動管理し、材料の特性を完全に解析することができます。

詳細については、当社のアプリケーションノートを御覧ください。
半導体の特性